Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
|
| Pubblicazione: | Heidelberg, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica: | XV, 382 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 620.5(Nanotecnologia) |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| 530.4(Fisica. Stati della materia) | |
| Persona (resp. second.): | Voigtländer, Bert |
| Titolo autorizzato: | Scanning Probe Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0242117 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://rd.springer.com/book/10.1007/978-3-662-45240-0 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
NanoScience and Technology Berlin . -Springer , 1998-