01519nam0 22003373i 450 VAN024211720221013102516.625N978366245240020220303d2015 |0itac50 baengDE|||| |||||Scanning Probe MicroscopyAtomic Force Microscopy and Scanning Tunneling MicroscopyBert VoigtländerHeidelbergSpringer2015XV, 382 p.ill.24 cm001VAN01233462001 NanoScience and Technology210 BerlinSpringer1998-DEHeidelbergVANL000282620.5Nanotecnologia22621.39Microingegneria22620.1Scienze dei materiali22530.4Fisica. Stati della materia22VoigtländerBertVANV097623Springer <editore>VANV108073650ITSOL20240614RICAhttps://rd.springer.com/book/10.1007/978-3-662-45240-0E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN0242117BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2219 17BIB2219/84 84 20220303 Scanning Probe Microscopy2779839UNICAMPANIA