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Titolo: | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
Pubblicazione: | XX, 408 p., : ill. ; 24 cm |
Edizione: | Cham : Springer, 2019 |
Descrizione fisica: | Pubblicazione in formato elettronico |
Disciplina: | 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) |
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) | |
530(Fisica) | |
502.82(Microscopia) | |
620.5(Nanotecnologia) | |
621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) | |
Persona (resp. second.): | Celano, Umberto |
Titolo autorizzato: | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | SUN0126542 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007%2F978-3-030-15612-1#toc |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |