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200 1 $a*Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics$fUmberto Celano editor
205   $aCham : Springer, 2019
210   $aXX$d408 p.$cill. ; 24 cm
215   $aPubblicazione in formato elettronico
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676   $a621.36$cIngegneria ottica. Ottica applicata$v22
676   $a543.5$cSpettroscopia ottica. Analisi spettroscopica$v22
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950   $aUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE$d17CONS      e-book                  2113        $e17BIB2113      222     20200206            
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