VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
VTS : 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium : 23-25 April 2019, Monterey, CA, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
|
| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2019 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (601 pages) |
| Disciplina: | 621.395 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| Titolo autorizzato: | VTS |
| ISBN: | 1-7281-1170-6 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996581164703316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |