VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014

• Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2014
• Descrizione fisica: 1 online resource (260 pages)
• Soggetto topico: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
• Titolo autorizzato: VTS
• ISBN: 1-4799-2611-6
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996281111003316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno