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Titolo: | 1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 13-16, 1997 |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Electron Devices Society, 1997 |
Disciplina: | 621.3815 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Reliability - Congresses |
Integrated circuits - Congresses - Reliability - Wafer-scale integration | |
Electrical & Computer Engineering | |
Electrical Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | 1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 13-16, 1997 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910872846103321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |