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| Titolo: |
1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineer
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Disciplina: | 025.3432 |
| Soggetto topico: | Periodicals |
| Titolo autorizzato: | 1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials ![]() |
| ISBN: | 1-5044-6933-X |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910492137503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |