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2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage : May 13-15, 2001, Monterey, California, USA



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Titolo: 2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage : May 13-15, 2001, Monterey, California, USA Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : Northern California Chapter of the American Vacuum Society, 2001
Disciplina: 621.3815/2
Soggetto topico: Semiconductor wafers - Effect of radiation on
Semiconductors - Defects
Plasma radiation
Semiconductors
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Persona (resp. second.): EngelhardtManfred
GabrielCalvin T
HookTerence
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: 2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage : May 13-15, 2001, Monterey, California, USA  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996206559403316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui