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Overview of the multiple biometrics grand challenge / / P. J. Phillips; H. A. Sahibzada; P. J. Flynn; K. W. Bowyer; A. O'Toole; S. Weimer; J. R. Beveridge; B. Draper; D. Bolme; G. H. Givens; Y. M. Lui; J. A. Scallan; W. T. Scruggs



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Autore: Phillips P. J Visualizza persona
Titolo: Overview of the multiple biometrics grand challenge / / P. J. Phillips; H. A. Sahibzada; P. J. Flynn; K. W. Bowyer; A. O'Toole; S. Weimer; J. R. Beveridge; B. Draper; D. Bolme; G. H. Givens; Y. M. Lui; J. A. Scallan; W. T. Scruggs Visualizza cluster
Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2009
Descrizione fisica: 1 online resource
Altri autori: BeveridgeJ. R  
BolmeD  
BowyerK. W  
DraperB  
FlynnP. J (Patrick J.)  
GivensGeof H  
LuiY. M  
O'TooleA  
PhillipsP. J  
SahibzadaH. A  
ScallanJ. A  
ScruggsW. T  
WeimerS  
Note generali: 2009.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Title from PDF title page.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Titolo autorizzato: Overview of the multiple biometrics grand challenge  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910710750203321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui