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2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff



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Titolo: 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017
Descrizione fisica: 1 online resource : illustrations
Disciplina: 621.3810287
Soggetto topico: Electronic apparatus and appliances - Testing
Sommario/riassunto: System, board, and component testing and fault tolerance with design, manufacturing and field considerations.
Altri titoli varianti: 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium
Titolo autorizzato: 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)  Visualizza cluster
ISBN: 1-5386-0415-9
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910209349503321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui