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IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits



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Titolo: IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2007
Descrizione fisica: 1 online resource (349 pages)
Disciplina: 621.38173
Soggetto topico: Embedded computer systems - Testing - Standards
Systems on a chip - Testing - Standards
Integrated circuits - Testing - Standards
Titolo autorizzato: IEC standard testability method for embedded core-based integrated circuits  Visualizza cluster
ISBN: 0-7381-5724-4
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996279341603316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
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