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MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan



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Titolo: MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2009
Disciplina: 004.568
Soggetto topico: Semiconductor storage devices - Testing
Random access memory
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-7335-3
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910140047703321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui