Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano
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| Autore: |
Celano, Umberto
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| Titolo: |
Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices : Doctoral Thesis accepted by the KU Leuven and IMEC, Belgium / Umberto Celano
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2016 |
| Titolo uniforme: | Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices |
| Descrizione fisica: | xxiv, 175 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | 3D Metrology |
| AFM Tomography | |
| C-AFM | |
| Conductive Bridging Memory CBRAM | |
| Conductive Filaments | |
| Ionic Devices | |
| RRAM | |
| Resistive Switching | |
| Scalpel SPM | |
| Titolo autorizzato: | Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0164428 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-39531-9 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer theses : recognizing outstanding Ph.D. research Berlin . -Springer , 2010-