Analisi quantitativa dei campi di deformazione in un'eterostruttura a semiconduttore per l'interpretazione di immagini di microscopia elettronica ad alta risoluzione / laureando Antonino Giuffrida ; relatori L. Vasanelli e L. Tapfer

• Autore: Giuffrida, Antonino
• Pubblicazione: Lecce : Università degli studi, Lecce. Facoltà di Scienze. Corso di laurea in Fisica, a.a. 1993-94
• Descrizione fisica: 109 p. ; 29 cm.
• Altri autori: Tapfer, Leander Vasanelli, Lorenzo
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Italiano
• Record Nr.: 991000808959707536
• Lo trovi qui: Univ. del Salento