01221nam a2200241 i 450099100080895970753620020506124414.0930515s1993 ||| ||| | ita b10132557-39ule_instLE00637197ExLDip.to FisicaitaGiuffrida, Antonino175508Analisi quantitativa dei campi di deformazione in un'eterostruttura a semiconduttore per l'interpretazione di immagini di microscopia elettronica ad alta risoluzione /laureando Antonino Giuffrida ; relatori L. Vasanelli e L. TapferLecce :Università degli studi, Lecce. Facoltà di Scienze. Corso di laurea in Fisica,a.a. 1993-94109 p. ;29 cm.Tapfer, LeanderVasanelli, Lorenzo.b1013255702-04-1427-06-02991000808959707536LE006 T5701LE006-T570le006-E0.00-no 00000.i1015562427-06-02Analisi quantitativa dei campi di deformazione in un'eterostruttura a semiconduttore per l'interpretazione di immagini di microscopia elettronica ad alta risoluzione186017UNISALENTOle00601-01-93ma -engxx 01