Vai al contenuto principale della pagina

Proceedings



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Titolo: Proceedings Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, NJ, : IEEE
Disciplina: 621.39
Soggetto topico: Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
Integrated circuits - Fault tolerance
Soggetto genere / forma: Conference papers and proceedings.
ISSN: 2162-061X
Titolo abbreviato (Periodici): Int. Des. Test Workshop
Altri titoli varianti: International Design and Test Workshop
IDT
IEEE International Design and Test Workshop
Titolo autorizzato: Proceedings  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280903303316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui