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Autore: | Bohm Joachim |
Titolo: | Einführung in die Kristallographie / / Joachim Bohm, Detlef Klimm, Manfred Mühlberg, Björn Winkler |
Pubblicazione: | Berlin ; ; Boston : , : De Gruyter, , [2020] |
©2021 | |
Edizione: | 20., erweiterte Auflage |
Descrizione fisica: | 1 online resource (XVI, 516 p.) |
Disciplina: | 530 |
Soggetto topico: | Technology & Engineering / Materials Science / General |
Soggetto non controllato: | Crystal chemistry |
crystal morphology | |
crystal physics | |
crystallography | |
theory of crystal structure | |
Altri autori: | BautschHans-Joachim KleberWill |
Persona (resp. second.): | KlimmDetlef |
MühlbergManfred | |
WinklerBjörn | |
Nota di contenuto: | Frontmatter -- Inhalt -- Vorwort -- Einleitung -- 1. Kristallstrukturlehre und Kristallmorphologie -- 2. Kristallchemie -- 3. Beugungsmethoden und Kristallstrukturbestimmung -- 4. Kristallisation–Kristallwachstum–Kristallzüchtung -- 5. Kristallphysik -- 6. Defekte in Kristallen (Realstrukturen) -- Beantwortung der Fragen -- Literatur -- Stichwortverzeichnis |
Sommario/riassunto: | Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden. |
The 20th edition of this proven standard work has been completely revised to cover all areas of crystallography in a fundamental and comprehensive way. For the first time, it includes a discussion of current diffraction methods and synchrotron radiation. | |
Titolo autorizzato: | Einführung in die Kristallographie |
ISBN: | 3-11-046024-6 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Tedesco |
Record Nr.: | 9910554240903321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |