2006 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : 2-4 August 2006, Taipei, Taiwan : proceedings
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| Titolo: |
2006 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : 2-4 August 2006, Taipei, Taiwan : proceedings
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2006 |
| Disciplina: | 621.39/732 |
| Soggetto topico: | Semiconductor storage devices - Testing |
| Random access memory | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Electrical Engineering | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2006 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : 2-4 August 2006, Taipei, Taiwan : proceedings |
| ISBN: | 1-5090-9829-1 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910145618003321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |