Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury, David C. Joy, Patrik Echlin, Charles E. Fiori and Joseph I. Goldestein

• Pubblicazione: New York : Plenum Press, 1986
• Soggetto non controllato: Microscopia elettronica
• Persona (resp. second.): Newbury, Dale E.
• Titolo autorizzato: Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 990001464400403321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Collocazione: 9 V 3