ITC-Asia : 2017 International Test Conference in Asia : 13-15 September 2017

• Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2017
• Descrizione fisica: 1 online resource (145 pages)
• Soggetto topico: Integrated circuits - Testing; Electronic systems - Testing; Electronic digital computers - Circuits - Testing
• Titolo autorizzato: ITC-Asia
• ISBN: 1-5386-3051-6
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996279679503316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno