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2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis : 28-29 April 2009



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Titolo: 2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis : 28-29 April 2009 Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2009
Descrizione fisica: 1 online resource (430 pages)
Soggetto topico: Computer programs - Testing
Automatic test equipment
Titolo autorizzato: 2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-6813-9
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996212388303316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui