Vai al contenuto principale della pagina

Proceedings, International Test Conference 1999



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Titolo: Proceedings, International Test Conference 1999 Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : International Test Conference, 1999
Disciplina: 621.3815/48
Soggetto topico: Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Embedded computer systems - Testing
Microprocessors - Testing
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: Proceedings, International Test Conference 1999  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910872508603321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui