Extending the notion of quality from physical metrology to information and sustainability / / Gaurav Ameta; Sudarsan Rachuri; Xenia Fiorentini; Mahesh Mani; Steven J. Fenves; Kevin W. Lyons; Ram D. Sriram
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| Autore: |
Ameta Gaurav
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| Titolo: |
Extending the notion of quality from physical metrology to information and sustainability / / Gaurav Ameta; Sudarsan Rachuri; Xenia Fiorentini; Mahesh Mani; Steven J. Fenves; Kevin W. Lyons; Ram D. Sriram
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2008 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Altri autori: |
AmetaGaurav
FenvesSteven J (Steven Joseph)
FiorentiniXenia
LyonsKevin W
ManiMahesh
RachuriSudarsan
SriramRam D
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| Note generali: | 2008. |
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| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Extending the notion of quality from physical metrology to information and sustainability |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910710753503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |