Proceedings / / International Test Conference
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Proceedings / / International Test Conference
|
| Pubblicazione: | [Silver Spring, Md.] : , : [IEEE Computer Society Press] |
| Altoona, PA : , : International Test Conference | |
| Washington, D.C. : , : International Test Conference | |
| Disciplina: | 004 |
| Soggetto topico: | Computer storage devices |
| Integrated circuits - Testing | |
| Semiconductor storage devices - Testing | |
| Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
| Conference papers and proceedings. | |
| ISSN: | 2378-2250 |
| Note generali: | Some conferences also have distinctive titles. |
| Published: Altoona, PA : International Test Conference, <1995-> | |
| Titolo abbreviato (Periodici): | INTERNATIONAL TEST CONFERENCE PROCEEDINGS |
| INTERNATIONAL TEST CONFERENCE | |
| Proc | |
| Altri titoli varianti: | International Test Conference |
| ITC | |
| IEEE ... Test Conference | |
| IEEE International Test Conference | |
| Proceedings of the International Test Conference | |
| Titolo autorizzato: | Proceedings |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910626163503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |