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IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers



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Titolo: IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969) : USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 1968
Descrizione fisica: 1 online resource (34 pages)
Disciplina: 539.2
Soggetto topico: Ionizing radiation
Altri titoli varianti: 300-1969 - USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors
USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors
IEEE No 300-1969
Titolo autorizzato: IEEE No 300-1969 (USAS N42.1-1969)  Visualizza cluster
ISBN: 1-5044-0275-8
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280848003316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
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