Total ionizing dose test report for the SFT2222A NPN bipolar junction transistor / / Dakai Chen, James Forney
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| Autore: |
Chen Dakai <1982->
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| Titolo: |
Total ionizing dose test report for the SFT2222A NPN bipolar junction transistor / / Dakai Chen, James Forney
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| Pubblicazione: | Greenbelt, Maryland : , : National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, , April 2021 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (approximately 22 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Bipolar transistors |
| Junction transistors | |
| Persona (resp. second.): | ForneyJames |
| Note generali: | "April 2021." |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 5). |
| Titolo autorizzato: | Total ionizing dose test report for the SFT2222A NPN bipolar junction transistor |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910716639603321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |