2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop : 7-9 May 2018, Essex, VT, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop : 7-9 May 2018, Essex, VT, USA / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (11 pages) |
| Disciplina: | 004.16 |
| Soggetto topico: | Embedded computer systems |
| Random access memory | |
| Systems on a chip - Testing | |
| Titolo autorizzato: | 2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop |
| ISBN: | 1-5386-6400-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910280921803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |