2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff
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| Titolo: |
2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina: | 621.3810287 |
| Soggetto topico: | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| Sommario/riassunto: | System, board, and component testing and fault tolerance with design, manufacturing and field considerations. |
| Altri titoli varianti: | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium |
| Titolo autorizzato: | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) |
| ISBN: | 1-5386-0415-9 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910209349503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |