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Titolo: | Optical Characterization of Thin Solid Films / Olaf Stenzel, Miloslav Ohlídal editors |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
Titolo uniforme: | Optical Characterization of Thin Solid Films |
Descrizione fisica: | xxiv, 462 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] |
74K35 - Thin films [MSC 2020] | |
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | Interface Spectroscopy |
Optical Coating Characterization | |
Optical Constants | |
Optical Properties of Thin Solid Films | |
Solid State Spectroscopy | |
Spectroscopic Imaging Spectrophotometry | |
Persona (resp. second.): | Ohlídal, Miloslav |
Stenzel, Olaf | |
Titolo autorizzato: | Optical Characterization of Thin Solid Films |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0211521 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-75325-6 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |