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Titolo: |
Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
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Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
Descrizione fisica: | VII, 369 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) |
620.1(Scienze dei materiali) | |
523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare) | |
530.44(Fisica del plasma) | |
Persona (resp. second.): | Carmignato, Simone |
Dewulf, Wim | |
Leach, Richard | |
Titolo autorizzato: | Industrial X-Ray Computed Tomography ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0124603 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-59573-3 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |