01529nam0 2200349 i 450 VAN012460320220310102425.391N978331959573320191022d2018 |0itac50 baengCH|||| |||||Industrial X-Ray Computed TomographySimone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editorsChamSpringer2018VII, 369 p.ill.24 cmCHChamVANL001889621.36Ingegneria ottica. Ottica applicata22620.1Scienze dei materiali22523.019Fisica molecolare, atomica, nucleare22530.44Fisica del plasma22CarmignatoSimoneVANV096033DewulfWimVANV096034LeachRichardVANV096035Springer <editore>VANV108073650ITSOL20240614RICAhttps://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-59573-3E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN0124603BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2112 17BIB2112/13 13 20191022 Industrial X-Ray Computed Tomography1565452UNICAMPANIA