Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
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| Titolo: |
Industrial X-Ray Computed Tomography / Simone Carmignato, Wim Dewulf, Richard Leach editors
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica: | VII, 369 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| 523.019(Fisica molecolare, atomica, nucleare) | |
| 530.44(Fisica del plasma) | |
| Persona (resp. second.): | Carmignato, Simone |
| Dewulf, Wim | |
| Leach, Richard | |
| Titolo autorizzato: | Industrial X-Ray Computed Tomography |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00124603 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-59573-3 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |