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Titolo: | 2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2020 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (various pagings) : illustrations |
Disciplina: | 621 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
Altri titoli varianti: | 2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium |
Titolo autorizzato: | 2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) |
ISBN: | 1-7281-5359-X |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996575535103316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |