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2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings



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Titolo: 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2000
Disciplina: 621.3815
Soggetto topico: Integrated circuits - Defects
Iddq testing
Metal oxide semiconductors, Complementary
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Persona (resp. second.): MenonSankaran M
SachdevManoj
MalaiyaYashwant K
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910872792503321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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