2009 International Test Conference
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| Titolo: |
2009 International Test Conference
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE, 2009 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina: | 621.381548 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Semiconductors - Testing | |
| Persona (resp. second.): | IEEE Staff |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2009 International Test Conference |
| ISBN: | 9781509069330 |
| 150906933X | |
| 9781424448678 | |
| 1424448670 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910138789503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |