Point Defects in Semiconductors I : Theoretical Aspects / Michel Lannoo, Jacques Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Autore: |
Lannoo, Michel
|
| Titolo: |
Point Defects in Semiconductors I : Theoretical Aspects / Michel Lannoo, Jacques Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
|
| Pubblicazione: | Berlin [etc.] : Springer-Verlag, 1981 |
| Disciplina: | 530.4 |
| Soggetto non controllato: | Superfici |
| Difetti | |
| Persona (resp. second.): | Bourgin, Jacques |
| Friedel, J. | |
| Titolo autorizzato: | Point Defects in Semiconductors I |
| ISBN: | 3-540-10518-2 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990001021490403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 32B-028 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |