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Titolo: |
X-ray microscopy and x-ray microanalysis : proceedings of the second international symposium, Stockholm, 1960 / edited by A. Engstrom, V. Cosslett, H. Pattee
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Pubblicazione: | Amsterdam : Elsevier, 1960 |
Descrizione fisica: | X, 542 p. : ill. ; 28 cm |
Disciplina: | 540 |
548 | |
Soggetto non controllato: | Cristallografia |
Raggi X | |
Persona (resp. second.): | Engström, Arne |
Cosslett, V. | |
Pattee, H. | |
Titolo autorizzato: | X-ray microscopy and x-ray microanalysis ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 990000349400403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Collocazione: | IIIg C 16 |
04 128-23 | |
37-012 | |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |