Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
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| Autore: |
Alford, Terry L.
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| Titolo: |
Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
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| Pubblicazione: | New York, N.Y. ; London : Springer, c2007 |
| Descrizione fisica: | xiv, 336 p. : ill. ; 25 cm |
| Disciplina: | 621.38152 |
| Soggetto topico: | Thin films |
| Nanostructured materials | |
| Classificazione: | LC QC176.83 |
| Altri autori: | Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
| ISBN: | 9780387292601 |
| 0387292608 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991000377489707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0713/2005933265.html |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |