IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (230 pages) |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Boundary scan testing |
| Microelectronics | |
| Sommario/riassunto: | IEEE Std 1149.1(TM) is augmented by this standard to improve the ability for testing differential and/or ac-coupled interconnections between integrated circuits on circuit boards and systems. |
| Altri titoli varianti: | IEEE Std 1149.6-2015 |
| Titolo autorizzato: | IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) |
| ISBN: | 1-5044-0596-X |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996280500403316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |