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Titolo: | 1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineer |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2008 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Disciplina: | 025.3432 |
Soggetto topico: | Periodicals |
Titolo autorizzato: | 1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials |
ISBN: | 1-5044-6933-X |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910492137503321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |