Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors]
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| Titolo: |
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors]
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| Pubblicazione: | Singapore, : Springer ; Beijing, : Peking University Press, 2018 |
| Titolo uniforme: | Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation |
| Descrizione fisica: | vii, 508 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 00Bxx - Conference proceedings and collections of articles [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 81V35 - Nuclear physics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy |
| Charged-particle microscopy | |
| Electron Microanalysis | |
| Electron/Ion Optics | |
| Helium Ion Microscopy | |
| In situ TEM | |
| Scanning Electron Microscopy | |
| Transmission Electron Microscopy | |
| Persona (resp. second.): | Wang, Rongming |
| Titolo autorizzato: | Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0212761 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-981-13-0454-5 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer Tracts in Modern Physics Berlin [etc.] . -Springer ; 272