Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka
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| Autore: |
Tanaka, Nobuo
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| Titolo: |
Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka
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| Pubblicazione: | XXVIII, 333 p., : ill. ; 24 cm |
| Edizione: | Tokyo : Springer, 2017 |
| Descrizione fisica: | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina: | 543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa) |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.1(Scienza dei materiali) | |
| Titolo autorizzato: | Electron Nano-Imaging |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | SUN0124112 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007%2F978-4-431-56502-4#toc |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |