01222nam0 2200313 i 450 SUN012411220200323085622.3640.00N978443156502420191008d2017 |0engc50 baengJP|||| |||||*Electron Nano-ImagingBasics of Imaging and Diffraction for TEM and STEMNobuo TanakaTokyo : Springer, 2017XXVIII333 p.ill. ; 24 cmPubblicazione in formato elettronicoTokyoSUNL000048543.65Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa22502.82Microscopia22620.1Scienza dei materiali22Tanaka, NobuoSUNV09557996771SpringerSUNV000178650ITSOL20200921RICAhttps://link.springer.com/book/10.1007%2F978-4-431-56502-4#tocSUN0124112UFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2111 17BIB2111 248 20191008 Electron Nano-Imaging1562519UNICAMPANIA