ANSI/IEEE Std 300-1982 (Revision of IEEE No 300-1969) : IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
ANSI/IEEE Std 300-1982 (Revision of IEEE No 300-1969) : IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 1992 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (154 pages) |
| Disciplina: | 338.4 |
| Soggetto topico: | Semiconductor industry |
| Altri titoli varianti: | ANSI/IEEE Std 300-1982 |
| Titolo autorizzato: | ANSI |
| ISBN: | 1-5044-0276-6 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996279854803316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |