VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008

• Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2008
• Descrizione fisica: 1 online resource (xxx, 413 pages)
• Soggetto topico: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
• Titolo autorizzato: VTS 2008
• ISBN: 1-5090-8176-3
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996216631503316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno