VLSI Test Symposium, 1995 IEEE
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| Titolo: |
VLSI Test Symposium, 1995 IEEE
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 1995 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (520 pages) |
| Disciplina: | 621 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits |
| Integrated circuits - Very large scale integration | |
| Integrated circuits - Very large scale integration - Testing | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | VLSI Test Symposium, 1995 IEEE |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996198216603316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |