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Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke



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Autore: Jahn Herbert Visualizza persona
Titolo: Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke Visualizza cluster
Pubblicazione: Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Descrizione fisica: 1 online resource (302 p.)
Soggetto topico: Optoelectronic devices
Optical detectors
Altri autori: ReulkeRalf  
Note generali: Description based upon print version of record.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references and index.
Nota di contenuto: Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste Größen
I.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS
Bestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen
III.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis
Sommario/riassunto: Die Signalverarbeitung in optoelektronischen Sensorsystemen ist ein multidisziplinär bearbeitetes Forschungsgebiet. Die von Disziplin zu Disziplin unterschiedlichen Formulierungen und Bezeichnungen haben zu Schwierigkeiten im gegenseitigen Verständnis und zu Mehrfachentwicklungen geführt. Das Buch von Jahn und Reulke weist einen Weg zur Überwindung dieser Probleme: Durch die konsequente Nutzung des Instrumentariums der Systemtheorie (und der Theorie der Zufallsgrößen und Zufallsprozesse) gelingt es den Autoren, eine vereinheitlichende Darstellung zu entwickeln. Dem Wissenschaftler und dem Inge
Titolo autorizzato: Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren  Visualizza cluster
ISBN: 1-282-28020-1
9786612280207
3-527-62590-9
3-527-62591-7
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Tedesco
Record Nr.: 9910830843603321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui