LEADER 04226nam 2200577Ia 450 001 9910830843603321 005 20230421045708.0 010 $a1-282-28020-1 010 $a9786612280207 010 $a3-527-62590-9 010 $a3-527-62591-7 035 $a(CKB)1000000000790416 035 $a(EBL)481761 035 $a(SSID)ssj0000343477 035 $a(PQKBManifestationID)11267367 035 $a(PQKBTitleCode)TC0000343477 035 $a(PQKBWorkID)10290510 035 $a(PQKB)10683223 035 $a(MiAaPQ)EBC481761 035 $a(OCoLC)352829684 035 $a(EXLCZ)991000000000790416 100 $a19960108d1995 uy 0 101 0 $ager 135 $aur|n|---||||| 181 $ctxt 182 $cc 183 $acr 200 10$aSystemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren$b[electronic resource] /$fHerbert Jahn, Ralf Reulke 210 $aBerlin $cAkademie Verlag$dc1995 215 $a1 online resource (302 p.) 300 $aDescription based upon print version of record. 311 $a3-527-40012-5 320 $aIncludes bibliographical references and index. 327 $aSystemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einfu?hrende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausga?ngen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgro?ßen und unbekannte feste Gro?ßen 327 $aI.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkoha?renten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Da?mpfung bekannter ra?umlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS 327 $aBestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Gro?ßen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen 327 $aIII.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Ho?henmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis 330 $aDie Signalverarbeitung in optoelektronischen Sensorsystemen ist ein multidisziplina?r bearbeitetes Forschungsgebiet. Die von Disziplin zu Disziplin unterschiedlichen Formulierungen und Bezeichnungen haben zu Schwierigkeiten im gegenseitigen Versta?ndnis und zu Mehrfachentwicklungen gefu?hrt. Das Buch von Jahn und Reulke weist einen Weg zur U?berwindung dieser Probleme: Durch die konsequente Nutzung des Instrumentariums der Systemtheorie (und der Theorie der Zufallsgro?ßen und Zufallsprozesse) gelingt es den Autoren, eine vereinheitlichende Darstellung zu entwickeln. Dem Wissenschaftler und dem Inge 606 $aOptoelectronic devices 606 $aOptical detectors 615 0$aOptoelectronic devices. 615 0$aOptical detectors. 700 $aJahn$b Herbert$01344681 701 $aReulke$b Ralf$01344682 801 0$bMiAaPQ 801 1$bMiAaPQ 801 2$bMiAaPQ 906 $aBOOK 912 $a9910830843603321 996 $aSystemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren$93069873 997 $aUNINA