IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | New York, NY : , : IEEE, , 2004 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (vi, 13 pages) |
| Disciplina: | 621.3815284 |
| Soggetto topico: | Field-effect transistors |
| Organic semiconductors | |
| Altri titoli varianti: | IEEE Std 1620-2004 |
| Titolo autorizzato: | IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910147230703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |